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FMP150涂層測厚儀

憑借 DUALSCOPE? FMP100 和 FMP150，F(xiàn)ISCHEER可提供高性能手持式測量儀器，用于涂鍍層厚度測量中各種要求嚴苛的任務(wù)。這些儀器配備觸摸屏和 Windows? CE 操作系統(tǒng)，操作快速且直觀。更大的系統(tǒng)內(nèi)存意味著您可以執(zhí)行數(shù)千個測量任務(wù)。具有各種統(tǒng)計與分析功能，可用于處理結(jié)果。

此外，借助 DataCenter IP 檢查計劃軟件，您可以編譯單個圖形計劃，以確保生產(chǎn)中的工作流程一致，或使未經(jīng)培訓(xùn)的用戶快速熟悉正確的測量程序。

特性：

• 可更換的探頭可為各種測量任務(wù)提供靈活選擇

• 在高分辨率圖形觸摸屏上詳細展示測試方案與檢查計劃

• 使用 Windows? CE 操作系統(tǒng)進行直觀的操作

• 通過磁感應(yīng)法和電渦流法進行鐵和非鐵磁性金屬上的涂鍍層測量

• 測量符合標(biāo)準，具有適用于 IMO PSPC、
  SSPCPA2、QUALANOD 或 QUALICOAT 的特殊模式

應(yīng)用：

• DUALSCOPE? 用于鋼、鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層，無需更換儀器

• FMP150：非鐵磁性金屬或絕緣體上的鎳涂鍍層

• 非鐵磁性金屬、鐵或鋼上的微米級涂鍍層

• 非鐵磁性制成的厚涂鍍層或鋼上的保護涂鍍層